РКТ BrightSpeed с системой Pancake DAS (PDAS). На плате ADB Board Backplane системы PDAS загорается светодиод FET_ERROR при запуске любых тестов DAS. Все тесты DAS кроме Auxiliary Ch Test не проходят в смысле: прерываются с сообщением “Scanner Hardware stopped scan” . Светодиоды на DCB горят штатно. Кроме того, все пингуется , проходит верификация памяти и т д. Flashdownload все ОК! Разъединений щеток и колец - по нулям. В PanCakeDCB (PDCB) part. №5317077 из состава PDAS шина управления FET состоит из 3-х групп по 6 проводников (18 проводов). Сигналы формируются в PDCB и подаются на плату ADB Converter Board Backplane Connector. По неполной схеме непонятно где и как формируется сигнал FET_ERROR и куда и в каком виде подается? Как шина управления подходит к 15 шт. DDIF (DAS Detector InterFace) на контакты D_FET(0) - D_FET(5)? Как распознать причину FET_ERROR , если в PDAS нет 18шт светодиодов FET Control Lines? Пути поиска причин FET_ERROR. Хочется пообщаться со знающим специалистом.
This procedure involves the DAS Control Board (DCB). A summary of the troubleshooting process is as follows:
First: Determine which FET line is Shorted or Open by using Interconnect/X-ray verification scans.
Second: Determine if DCB board is sending correct FET command signal or isolate source chassis.
Third: Remove top covers to “find” shorted FET control signal.
END LEVEL 1, on site troubleshooting.
3 Procedure
Select and run Interconnect/X-Ray verification scans within the DAS tools.
Pass No failures indicate that FETs controlling the Data Acquisition modes are okay.
Fail A fail condition is a failure of a group of channels.
Using Scan Analysis, plot each of the X-Ray verification scans (from step 1), and compare the values to the specs.
Look for plots that appear abnormal.
Check the FET control signals coming from the DCB.
Carefully disconnect the center chassis data cable (between center and left chassis).
If the short is no longer present, then the short is in the center chassis DAS/detector interface connection.
For Pancake DAS, disconnect the BP cable (between low channel BP and high channel BP). If the short is no longer present, then the short is in the high channel Backplane DAS/detector interface connection.
END LEVEL 1, ON SITE TROUBLESHOOTING
Escalate problem.
Collect all data gathered during the above procedures.
Кабель и его распиновка мне известна (between low channel BP and high channel BP). В документации есть и распиновка входов плат ADB (преобразователей) There are eight DDIF connectors connected to 16 slice detector on ADB, M1~4A and M1~4B. (Раздел 2.1 DDIF (DAS Detector InterFace) ) и расписаны сигналы с DIFB J1-J3 Connector PIN Assignment, но в системе PDAS так все неудобно расположено, особенно 15 штук преобразователей. Когда отключим кабель от high channel BP, и если короткое окажется в нижней части, то хочется с минимальными временными потерями и без внесения статических зарядов "копать" дальше. Схемы Backplane полной нет и я не понял: для дальнейшего поиска причины достаточно ли отбрасывать гибкие кабели от детекторов? Могут ли быть замыкания на самой Backplane, или наиболее вероятны отказы полевых транзисторных сборок? Где конструктивно расположены полевые сборки в этой модификации? Кроме того, по аналогии с другими платами DCB: 18 сигналов (3 гр по 6) шины управления FETs формируются на выходе процессора и через буферные микросхемы платы DCB поступают на Backplane. Если один из буферов неисправен, то это вроде как явно неисправна DCB. Так можно утверждать, если точно знать логику формирования сигнала FET_ERR, где он формируется и с какого контакта, например платы DCB (или еще вдруг откуда) поступает на светодиод ВР и куда подается. Я этого не нашел, но может это связано с контактами С(2-5) и D(2-5) платы DCB (Table 31: DCB to BACKPLANE Pinouts)? В некоторых схемах эти контакты пустые, как впрочем и С1 и Д1 где сигналы DCB_ERR и DCB-HEART, которые выводятся на панель - Illustration 4: Backplane (5830200) LED's. Для полной уверенности хочется вот по этим вопросам уточнения.
Вопрос решен. Шина FET оказалась замкнутой в верхней части Backplane (high channel BP) на девятом преобразователе (ADB) (на втором в high channel BP). Ввиду параллельного подключения ADB к шины управления FETs обнаружить замыкание удалось путем поочередного отключения ADB от high channel BP (на ней их 8 штук). После снятия статики и подключения платы на свое место все работает. В данном случае PanCakeDCB (PDCB) не обнаруживает ошибку и индикация светодиодов не позволяет найти неисправность. P.S. При использовании теста DAS, когда на всех разрядах шины выставляются нули, ошибка FET_ERROR не проявляется. Этот тест, отключение кабеля (between low channel BP and high channel BP) и поочередное отлючение (всего 8шт) ADB позволили за 6 часов устранить неисправность. Если кто знает как поступать в таких случааях более эффективно, то прошу это обсудить. Иначе тема закрыта. Всем залянувшим и особенно Завсегдатаю спасибо.
Российская Федерация
